viernes, 15 de julio de 2016

EXPEDIENTE WARREN: EL CASO ENFIELD : CRÍTICA CINEMATOGRÁFICA


Cada vez que me enfrento a una nueva película de terror o de fenómenos paranormales, prefiero no pensar mucho en lo que me voy a encontrar y dejarme sorprender para bien o para mal.
“Expediente Warren: El caso Enfield” está basado en un caso real, uno de tantos que los expertos en fenómenos paranormales Ed (Patrick Wilson) y Lorraine Warren (Vera Farmiga), recogieron en sus libros sobre los sucesos en los que estuvieron involucrados. En esta ocasión viajarán al norte de Londres para ayudar a una madre soltera (Frances O´Connor) que vive con sus cuatro hijos en una casa encantada y habitada por un espíritu maligno.

James Wan, director  al que todos conocimos con su gran saga “Saw” parece haber encontrado otro filón con Expediente Warren, y tras la primera entrega, nos presenta un nuevo hecho real.

Lo que es indiscutible en  Wan es el dominio que tiene sobre los recursos cinematográficos y la utilización del lenguaje a través de la cámara, que la convierte en un personaje más, mostrándonos en ocasiones pequeños detalles que crearán la tensión y angustia suficiente, pero no excesiva, para que el espectador esté alerta en la butaca. Es ese tipo de terror psicológico, que se degusta y se disfruta con cada golpe de sonido, con cada efecto de sombras y luces y sin olvidar las interpretaciones, que están ajustadas a sus personajes. Sobre todos ellos destaca Janet Hodgson (Masison Wolfe) la niña que nos cautivará y aterrará por igual.

La música de Joseph Bishara y la fotografía de Don Burgess serán elementos imprescindibles para arropar a la historia con ese misterio que poco a poco vamos a ir descubriendo, en sus más de dos horas de metraje.  

Película recomendable para todos los amantes del terror.

Mi puntuación es de: 6

 

REPARTO: Vera Farmiga, Patrick Wilson, Frances O´Connor, Madison Wolfe, Lauren Esposito, Patrick McAuley, Benjamin Haigh, Maria Doyle Kennedy, Simon Delaney, Franka Potente, Simon McBurney, Javier Botet.
 

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